Жоғары жеделдетілген стресс-тестілеу (HAST) электрондық өнімдердің сенімділігі мен қызмет ету мерзімін бағалауға арналған жоғары тиімді сынақ әдісі болып табылады. Әдіс электронды өнімдерді өте қысқа уақыт ішінде жоғары температура, жоғары ылғалдылық және жоғары қысым сияқты төтенше экологиялық жағдайларға ұшырату арқылы ұзақ уақыт бойы бастан кешіруі мүмкін кернеулерді модельдейді. Бұл тестілеу ықтимал ақаулар мен әлсіз жақтарды ашуды тездетіп қана қоймайды, сонымен қатар өнімді жеткізуге дейін ықтимал проблемаларды анықтауға және шешуге көмектеседі, осылайша өнімнің жалпы сапасы мен пайдаланушының қанағаттанушылығын арттырады.
Сынақ нысандары: проблемаларды ынталандыру үшін жоғары жеделдетілген стрессті қолданатын чиптер, аналық платалар және ұялы телефондар мен планшеттер.
1. Импортталған жоғары температураға төзімді электромагниттік клапанның қос арналы құрылымын қабылдау, ақаулық деңгейін пайдалануды барынша азайтуға мүмкіндік береді.
2. Өнімге жергілікті зақым келтірмеу үшін будың өнімге тікелей әсерін болдырмау үшін тәуелсіз бу шығаратын бөлме.
3. Есік құлпын сақтау құрылымы, өнімдердің бірінші буынын шешу үшін диск түріндегі тұтқаны құлыптау қиын кемшіліктерді.
4. Сынақ алдында суық ауаны шығару; қысымның тұрақтылығын, қайталану мүмкіндігін жақсарту үшін шығатын суық ауаның конструкциясында сынау (сынақ бөшкесінің ауа разряды).
5. Ультра ұзақ эксперименттік жұмыс уақыты, ұзақ эксперименталды машина 999 сағат жұмыс істейді.
6. Су деңгейін тексеру камерасы арқылы су деңгейін қорғау Сенсорды анықтаудан қорғау.
7. Сумен жабдықтау: автоматты сумен жабдықтау, жабдық су ыдысымен бірге келеді және су көзінің ластанбауын қамтамасыз ету үшін ашық емес.
